Herzlich willkommen bei der A.T.i. Software GmbH – Ihrem Testhaus für Prüfsoft- und -hardware-Lösungen in München.

Wir entwickeln individuelle, kundenorientierte, leistungsstarke Soft - und Hardware­lösun­gen zum Test elektronischer Baugruppen für den Incircuit-, Boundary Scan und Funktional Test sowie für die In-System Programmierung. Erfahrung aus mehr als 2000 Projekten!

Als Besonderheit erstellen wir In-System Programmierungen mit sehr großer Perfor­mance und vieles mehr für den elektrischen Test von Elektronik-Baugruppen.

Unsere Dienstleistung umfasst die Beratung, Erstellung eines optimalen Testkonzeptes, Konzipierung erforderlicher Prüfvorrichtungen (Adapter), Lieferung, Inbetriebnahme und Support in Ihrem Hause.

In-Circuit-Test (ICT)

Der In-Circuit-Test (ICT) ist nach wie vor das am meisten eingesetzte Prüfverfahren für den Test von Baugruppen in der Elektronik­fertigung.

Im ICT können sowohl analoge Bauteilen (Widerstand, Kapazität, Induktivität, Dioden, Transistoren usw. ) sowie auch komplexe, digitale Komponenten getestet werden. Der In-Circuit-Test ermöglicht im Vergleich zu anderen Testverfahren (z.B. Flying Probe) sehr kurze Testzeiten ( = hoher Baugruppen Durchsatz) verbunden mit einer sehr hohen Testabdeckung.

Test ist nicht gleich Test

Wir bei A.T.i. bieten eine große Vielfalt an Tools und Optionen rund um den ICT.

• Zeitoptimierung – Test von High Volume Baugruppen, Nutzentest
• Variantenhandling und vieles mehr …
• Anbindung an Datenbanken für Traceablity Lösungen
• Wir erstellen und debuggen die Testprogramme auf unseren hausinternen Systemen.
• Wir liefern unseren Kunden schlüsselfertige Lösungen.
• Die Inbetriebnahme in der Fertigung erfolgt zuverlässig und ohne lange Standzeiten in der Produktion.

Steigerung der Performance im ICT durch Integration von

• In-System Programmierung (ISP) parallel im Nutzen
• Boundary-Scan Test (BST)
• Funktional Test (FKT)

A.T.i. ist seit 2002 Selected Member des TSN Netzwerkes

Erfahrung ist unser Trumpf

In-System Programmierung (ISP)

Moderne Baugruppen erfordern heute meist eine On-Board oder In-System Programmierung. Die In-System Programmierung (ISP) auf dem Incircuit Testadapter stellt die ideale Lösung zur Optimierung der Abläufe in der laufenden Elektronikfertigung dar.

Wir haben bei A.T.i. sehr leistungsfähige Software Lösungen zur ISP -Programmierung entwickelt. (*)

• Kostengünstig durch Einsparung weiterer Fertigungsschritt
• kurze Time to Market
• direkte Programmierung auf dem ICT – Testadapter
• keine weitere HW (Programmierstationen und Programmieradapter)
• keine Bestückung von Bausteinen mit nicht aktueller Software Revision
• nur die aktuell benötigte Anzahl der Bauteile wird programmiert , optimale Ausnutzung der Ressourcen (Chipmangel)
• Abgleich und Fertigungsparameter sowie Barcode werden direkt programmiert (Traceability)

• Programmierung vieler uP und uC Bausteine
• Beschreiben von Eeprom, Flash
• Programmierung über Schnittstellen I2C, SPI, Bootloader, BDM,JTAG u.a.
• Programmierung bis 64 Bit Breite , dadurch auch parallele Programmierung im kompletten Nutzen !!!
• Programmierung von festen und variablen Daten, (Seriennummern) auch im Nutzen.
• Bereits mehr als 100 Modelle realisierte u.a. ATMEGAx, PICx, MSPxx, STMx, Nutzengrößen z.B. 8-,16-,25-,32- und 63-fach
• Extrem kurze Programmierzeiten – z.B. 24-fach Nutzen in < 10 Sekunden !

Programmierbespiele

• MC9SS08AW32 (32KB)  Erase/program/verify 3.1 Sec
• MC9S12XEG128 (128+32KB)  Erase/program/verify 5.9 Sec
• R5F10AGF(96+4KB)  Erase/program/verify 13 Sec
• TMS320F2808 (128+1KB) Erase/program/verify ca. 8-11 Sec, bei gelöschtem Flash 4,5
• SPC560B50(512+64+16KB) Erase/program/verify 9 Sec, bei gelöschtem Flash 5,5

(*) Für Teradyne Testsysteme GR228x , TS-LH1xx ,TS1xx, ,TS-TSR,TS-DUO

Je nach zu programmierenden Devices lassen sich mit den beiden erst genannten Methoden bis zu 128 identische Devices gleichzeitig programmieren (Nutzen-Programmierung). Dabei ist es auch möglich, variable Daten wie z.B. individuelle Seriennummern zu schreiben.

Mit unseren maßgeschneiderten In-System Programmierlösungen (ISP) lassen sich die verschiedensten Speicher- und Mikrocontrollerbausteine sehr effizient programmieren. Durch die parallele Programmierung im Nutzen wird die Programmier- und damit Testzeit erheblich minimiert.

Je nach Programmierschnittstelle werden optimierte Verfahren angewendet, zum Beispiel spezielle Ladeprogramme um Daten schneller übertragen zu können. Durch von uns entwickelte Zusatzhardware (Programmiermodule) werden auch asynchrone Kommunikationsprotokolle parallelisierbar.

Im engen Austausch mit dem Kunden schaffen wir projektspezifische Lösungen, um individuelle Produktionsdaten wie z.B. Seriennummern an vorher definierte Speicheradressen zu programmieren.

Für die Dokumentation erstellen wir eine Programm-Konformitätserklärung, in der wesentliche Parameter u.a. die verwendeten Hersteller-Unterlagen dokumentiert werden.

Das im Video gezeigte Beispiel zeigt die Programmierung eines Mikrocontrollers mit 64KBytes Flash und serieller Programmierschnittstelle. Die Gesamtzeit für ID-Check (Kontrolle, ob der richtige Typ bestückt wurde), Löschen, Programmieren und Verifizierung beträgt 11 Sekunden. Bei der Nutzengröße von 13 Baugruppen ergibt sich eine effektive Programmierzeit von unter einer Sekunde pro Board!

Know How für höchste Performance

Boundary-Scan Test (BST)

Der Boundary Scan Test ermöglicht den Test elektronischer Baugruppen auch bei reduziertem Zugriff auf die Leiterplatte.

Der BST kann im einfachsten Fall über den Stecker einer Baugruppe durchgeführt werden.

Digitale Bausteine benötigen einen JTAG Port. Im direkten Vergleich zum ICT erfordert der BST längere Testzeiten und der Test analoger Bauteilen ist nicht möglich.

Der BST ist die ideale Ergänzung für den ICT, um nicht kontaktierbare Schaltungsteile überprüfen zu können.

Die A.T.i. bietet auch im Bereich BST eine große Bandbreite an Variations – und Einsatzmöglichkeiten.

Möglichkeiten

• Infrastrukturtest und Interconnection-Test
• Speicher-Tests
• Clustertests
• Erstellung von BST mit Göpel CASCON SW als Stand Alone Lösung
• Integration von BST in den ICT Ablauf, Integration in die ICT Adaption

Funktionaltest (FKT)

Als funktional Test oder Funktionstest (FKT) bezeichnet man die Prüfung einer Baugruppe auf Einhaltung der von der Entwicklung spezifizierten Parameter.

Die Erstellung eines FKT erfordert ein hohes Knowhow des Testingenieurs. Für die Diagnose und Reparatur der Baugruppe ist ebenfalls höher qualifiziertes Personal erforderlich.

Auch im Bereich FKT bietet A.T.i. die Kompetenz und Erfahrung:

• funktional Test als ADD-ON für den Incircuit-Test
• Stand-Alone Lösung z.B. mit Labview als kundenspezifische PC-Lösung
• Test Opto elektrischer Bauteile
• Kombination mit Boundary-Scan Test

Kompetenz für Ihren Erfolg

Testadapter

Der Testadapter stellt die Verbindung zwischen der zu prüfenden Baugruppe (UUT) und dem Testsystem (Tester-Interface) her

An einen Testadapter werden hohe Anforderungen gestellt

• Zuverlässige Kontaktierung auch bei hohen Stückzahlen
• Große mechanische Präzision um auch kleine Testpunkte sicher zu kontaktieren

Wir bieten verschiedene Ausführung von Testadaptern an

• Vakuum Adapter
• Inline Adapter
• Mechanischer Adapter
• Einseitige/zweiseitige Kontaktierung
• Einstufen / Zweistufen Adapter

Bereits bei der Erstellung des Testkonzeptes werden wichtige Entscheidungen für den Aufbau des Testadapters getroffen, z.B.

• Auswahl Vakuum/Inline Adapter
• Welche Testverfahren werden auf der Adaption eingesetzt ICT / ISP / BST / FKT

Für den Bau der Adapter werden folgende Daten aufbereitet.

• Bohr – und Verdrahtungsdaten
• Benötigte Spezialverdrahtung Twisted Pair, Koaxial etc.
• Benötigte Zusatzhardware
• Wir beziehen unsere Adapter von unseren kompetenten und zuverlässigen Partnern
• Die Adapterinbetriebnahme und das Debugging erfolgt bei der A.T.i.

Weitere Dienstleistungen

Wir unterstützen Sie bei Ihren Projekten durch:

• Individuelle Trainings rund um das Thema Testen
• telefonische Supportleistungen
• Mitarbeiterschulungen
• Debugging-Unterstützung zur Entlastung der eigenen Testsysteme
• Aushilfe und Support in Ihrem Haus bei Personalmangel aufgrund von Urlaub oder Krankheit Ihrer Mitarbeiter

Sprechen Sie uns an. Wir unterstützen Sie gerne bei der Lösungsfindung und stehen Ihnen kompetent und zuverlässig zur Seite.

Flexibilität zum Vorteil unserer Kunden